Projekt:

Mess-System zur Bestimmung der Schichtdicken von optischen Beschichtungen

Kategorien:



Aufgabe:

  • Ermittlung der Schichtdicken eines Schichtstapels mithilfe eines Spektrometers in Echtzeit

Lösung und Technologien:

  • Industrial-PC mit QNX RTOS

  • Adaption eines Spektrometers über Ethernet

  • Adaption einer Synchronisationshardware zur Steuerung des Messzeitpunkts über eine RS232-Schnittstelle

  • Bereitstellung einer TCP/IP-Schnittstelle zur Steuerung der QNX-Software über eine externe Benutzeroberfläche

Leistungen von IBV:

  • Entwicklung eines Prototypens für die Schichtdicken-Berechnung

  • Implementierung eines Algorithmus zur Vorausberechnung des Schichtdicken-Zuwachses zur optimalen Abschaltung des Beschichtungsprozesses

  • Re-Implementierung eines bestehenden Algorithmus zur optimalen Abschaltung des Beschichtungsprozesses

  • Auswahl von geeigneter Hardware

  • Softwaredesign

  • Komplette Softwareentwicklung für das Mess-System

  • Integration von Hardware, Betriebssystem, Applikation und externen Systemen

  • Unterstützung bei der Inbetriebnahme

  • Bereitstellung eines Simulationsmodus, um den Beschichtungsprozess in Echtzeit nachzubilden

Wir sind für Sie da!

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